表面を制する者、材料を制する！「表面分析セミナー」を開催しました。
顕微鏡で試料の表面を観察だけでなく、試料表面の元素組成、化合物の同定、一定深さ方向の解析など、さまざまな情報を得たいと思った時に表面分析は非常に有効な手段です。 本セミナーでは、試料の表面に関する多彩で有益な情報を得るための各種分析技術やそれらの応用事例をご紹介しました。 ご紹介する装置・設備は文部科学省ナノテクノロジープラットフォーム事業の共用装置となっており、日本全国の大学・研究機関にて、どなたでも利用することが出来ます。
●日時：2015年12月17日(月)10：30～17：00
●場所：JST東京本部別館
●主催：分子・物資合成プラットフォーム(北陸先端科学技術大学院大学,東北大）・微細構造解析プラットフォーム（東京大学）
●参加費：無料
●プログラム
「光電子分光法(XPS)による表面分析の基礎と応用事例」(島津製作所・吉田能英)
「ナノテクプラットフォームでの支援事例紹介」（村上達也・JAIST）
「二次イオン質量分析法(SIMS)の基礎と応用事例」（三輪司郎・アメテック（株））
「SIMSによる高分解能元素イメージング」（竹内美由紀・東京大）
「水を取り込むと構造化する燃料電池膜の研究」（長尾祐樹・JAIST）
「有機薄膜太陽電池の評価事例」（酒井平祐・JAIST）
「光電子収量分光を用いたΠ共役系分子集合体の表面分析」（山本俊介・東北大）
●参加申し込み： ＷＥＢフォームよりお申込み下さい。
https://ssl.form-mailer.jp/fms/629a1048392475
●お問い合わせ先：分子科学研究所 分子・物質合成プラットフォーム（井上）
TEL：0564-55-7431 Email：nanoplat@ims.ac.jp
